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투과전자현미경(TEM, Transmission Electron Microscope). |
투과전자현미경은 전자빔이 시료를 투과하며 이미지를 형성하는 고해상도 현미경으로, 광학현미경보다 월등히 높은 확대율과 분해능을 제공하는 것이 특징이다. 이를 통해 다양한 물질의 미세 구조를 관찰하고, 격자 정보를 기반으로 한 정밀 분석이 가능하다.
특히 TEM을 활용하면 결정구조, 결함, 원자 배열 분석뿐만 아니라 원소의 정량 및 정성, Mapping 분석 등이 가능하다. 또한, 전용 홀더를 사용하여 Vacuum Transfer(대기차폐) 분석 등을 수행할 수 있다.
서울시립대 연구처 산하 공동기기센터는 약 33억 원을 투자하여 지난해 말 TEM을 도입했으며, 오는 2025년 3월부터 본격적인 운영을 시작할 예정이다. 이에 앞서 연구자들을 대상으로 2월 28일까지 시범 운영을 진행하며, 무료 분석 서비스를 제공할 계획이다.
또한, 공동기기센터는 매 학기 교내외 연구자를 대상으로 TEM 이론 교육을 실시할 계획이다. 이를 통해 연구자들이 TEM 작동 원리와 분석 기법을 효과적으로 활용할 수 있도록 지원할 예정이다.
서울시립대 정연두 연구처장은 “공동기기센터는 최첨단 연구 장비를 지속적으로 확충하여 연구자들의 연구 역량을 강화하고, 보다 정밀하고 신뢰성 높은 연구 데이터 제공을 위해 최선을 다하겠다”고 밝혔다.
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